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簡(jiǎn)要描述：NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統測為L(cháng)CD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等領(lǐng)域提供納米級別精度的測l。NVM-6000P是型設備，用于基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole，Pad形狀，Pattern形貌和表面形貌等11個(gè)項目可以進(jìn)行自動(dòng)測量。
產(chǎn)品型號：廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2020-10-31訪(fǎng) 問(wèn) 量：3833產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品種類(lèi) | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
| 應用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車(chē),電氣 |
NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統
產(chǎn)品描述
NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統是型設備，用于基板表面形貌的測量。
基板上的Via Hole，Pad形狀，pattem形貌和表面形貌等11個(gè)項目可以進(jìn)行自動(dòng)測量。
在高速測量下仍具有優(yōu)良的重復性和準確性，支持用戶(hù)設定測量條件和測量數據自動(dòng)保存及分析功能。
產(chǎn)品規格
掃描范圍：0-180um（270um可選）
垂直分辨率：WSI：﹤0.5nm
臺階高度重復性:﹤0.5%(1σ)
橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）
工作臺面：510X405mm（程控）
尺寸：1200(w)X1250(D)X1900(H)
應用領(lǐng)域
Nano View系列為L(cháng)CD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機電系統），Engineering Surfaces（工程表面）等等領(lǐng)域提供納米級別精度的量測。包括：PostSpacer,RGB,Charater,Back Pannel,Spray PR,Roughness,VIA hole,Cu Thickness,Cu Pad,Line Profile,Fiber,Array,Semiconductor,MENS,Abraslon,BGA.
ISO 25178 · 4287 規格標準化數據
按照ISO標準機構規定的規格，以圖表、表格、2D•3D圖像的形式大面積顯示粗糙度、高度及幅度等各類(lèi)數據。
圖形的粗糙度評價(jià)Roughness evaluation of images
Nano System利用從ISO、ASME、EUR等多家標準機構獲得的30多個(gè)粗糙度參數來(lái)評估Sample的粗糙度。
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