EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀

EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀在非接觸模式下自動(dòng)測量大型樣品的薄層電阻，最大可達300×300平方毫米（12×12英寸）。在手動(dòng)樣品定位時(shí)，該設備會(huì )自動(dòng)測量并顯示整個(gè)樣品區域的薄層電阻的準確映射。測量設置允許輕松靈活地在低于 1 分鐘的快速測量時(shí)間或超過(guò) 10,000 個(gè)測量點(diǎn)的高空間測量分辨率之間進(jìn)行選擇。

EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀產(chǎn)品介紹：

EddyCus® map 2530系列在非接觸模式下自動(dòng)測量大型樣品的薄層電阻，最大可達300×300平方毫米（12×12英寸）。在手動(dòng)樣品定位時(shí)，該設備會(huì )自動(dòng)測量并顯示整個(gè)樣品區域的薄層電阻的準確映射。測量設置允許輕松靈活地在低于 1 分鐘的快速測量時(shí)間或超過(guò) 10,000 個(gè)測量點(diǎn)的高空間測量分辨率之間進(jìn)行選擇。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 非接觸式

· 快速、高重復度測量

· 高分辨率成像

· 最大 300 x 300 mm（12"）的樣品成像測量

· 封裝的導電層的表征

· 軟件集成分析功能，例如電阻均一性分布、線(xiàn)掃描、單點(diǎn)分析

· 測量數據保存和導出功能

· 缺陷識別、分析

產(chǎn)品優(yōu)勢:

·  非接觸式成像

·  高速 (5 分鐘測量10,000個(gè)檢測點(diǎn))

·  重復性和精確性

·  高分辨率 (9 – 90,000個(gè)檢測點(diǎn))

·  封裝后的膜層成像

·  均勻性和缺陷成像

產(chǎn)品參數

軟件和設備操控:

· 人性化的軟件

· 實(shí)時(shí)測繪測量

· 易于使用的統計分析選項

· 預定義的測量和產(chǎn)品配方（尺寸、間距、閾值）

· CSV 和 pdf 導出

· 3 用戶(hù)級別

· 用于參數轉換的材料數據庫

· 邊緣效應補償

· 數據的存儲和導入

· 數據集的導出（例如到 EddyEva、MS Excel、Origin）